Transmissionselektronenmikroskop JEOL JEM-2100Plus

Das Transmissionselektronenmikroskop (TEM) JEOL JEM-2100Plus bietet die Möglichkeit Objekte mit einer bis zu 1.500.000-fachen Vergrößerung abzubilden. Mit der Option Messungen bei Beschleunigungsspannungen von 80 kV und 200 kV durchzuführen und einer erreichbaren Auflösung von bis zu 0,14 nm, ermöglicht das Mikroskop nicht nur die Untersuchung empfindlicher Proben bei geringen Vergrößerungen, sondern auch die Abbildung von Nanoobjekten mit atomarer Auflösung. Neben der Möglichkeit Hellfeld-Messungen durchzuführen, ist das Mikroskop noch mit weiteren Operationsmöglichkeiten ausgestattet. Während bei der TEM-Tomografie eine 3D-Rekonstruktion aus einer Kippserie von 2D-Projektionsbildern angefertigt wird, bietet die Kryo-Mikroskopie eine Möglichkeit Proben zu untersuchen, welche sich im Zuge des Trocknens während der Probenpräparation normalerweise verändern würden. Scanning-TEM, sowohl im Hellfeld als auch im Dunkelfeld, ermöglicht zusammen mit einem Detektor für energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX) Elementanalyse im mikroskopischen Maßstab.